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EM40

전자현미경

전자현미경 EM40

분해능

5nm(at 30kV) / Tungsten

분석배율

5만배 이내

분석범위(X,Y)

40x40mm(H:40mm)

검출기

SE, BSE

부가기능

EDS(Bruker), 저진공(VP), Panorama, NanoFiber Scanner, Particle Analysis, Fiber Analysis, Deep 3D S/W

장비 문의

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주요장점

최대 25만 배 고배율 분석

최대 25만 배까지 확대 관찰이 가능하며, 특히 10만 배
이하 영역에서 안정적이고 선명한 이미지를 제공합니다.
다양한 소재의 표면 형상과 미세 구조를 정밀하게
분석할 수 있습니다.

SE·BSE 이중 검출기 분석

SE(2차전자)와 BSE(반사전자) 검출기를 통해 표면 형상과 조성 정보를 동시에 획득할 수 있습니다. 시료의 구조적 특성과 물질 분포를 보다 정확하게 파악할 수 있습니다.

다양한 분석 소프트웨어 지원

Panorama, NanoFiber Scanner, Particle Analysis, Fiber Analysis, Deep 3D S/W 기능을 지원합니다.
입자 분석, 섬유 분석, 대면적 이미지 합성 및 3차원 형상 분석 등 다양한 응용 분석이 가능합니다.

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