최대 0.6nm의 초고분해능을 제공하여 나노 단위의
미세 구조를 정밀하게 관찰할 수 있습니다. 첨단 소재 및 반도체 시료의 고해상도 분석에 최적화되어 있습니다.
최대 100만 배 확대 관찰이 가능하여 수 nm 수준의
미세 조직과 표면 형상을 선명하게 확인할 수 있습니다.
초미세 결함 및 구조 분석에 뛰어난 성능을 제공합니다.
전자빔에 의한 시료 손상을 최소화하여 민감한
시료도 안정적으로 관찰할 수 있습니다. 비전도성
시료의 경우에도 코팅 없이 저전압 분석이 가능합니다.
| 일 | 월 | 화 | 수 | 목 | 금 | 토 |
|---|
예약 안내사항