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국내 최첨단 분석 장비 전문 기업 ㈜지에스이엠(GSEM, 경기도 수원 소재)이 국내 최초로 CIQTEK FIB-SEM(DB550)을 도입하고 본격적인 시험분석 서비스를 개시한다고 밝혔다.

이번 도입으로 GSEM은 SEM·FIB 융합 분석 체계를 구축해 국내 연구자들에게 한층 강화된 정밀 분석 환경을 제공할 예정이다.

CIQTEK FIB(DB550)은 전자빔과 이온빔을 동시에 활용해 시료를 가공·관찰할 수 있는 첨단 분석 장비다.

특히 반도체·전자소자·신소재 분야 연구개발에 필수적인 단면 가공과 나노 수준의 구조 분석에 최적화되어 있으며,

에너지 소재 등 다양한 분야로도 활용 가능성이 크다.

이번 도입으로 연구자들은 기존에 일부 기관에 의존하던 FIB 분석을 GSEM 시험분석센터에서 직접 수행할 수 있게 됐다.

이를 통해 분석 시간과 비용을 줄이고, 신속하면서도 신뢰성 높은 결과를 확보할 수 있을 것으로 기대된다.

특히 GSEM이 운용 중인 고성능 FE-SEM과의 융합 분석이 가능하며 고해상도 단면 분석, 나노 가공,

STEM 모드를 활용한 바이오 시료 분석까지 지원함으로써 정밀 분석 서비스의 수준을 한층 끌어올렸다.

GSEM은 단순한 분석 서비스 제공을 넘어 FIB 장비 공급과 맞춤형 컨설팅까지 아우르는 종합 솔루션을 마련할 계획이다.

이를 통해 연구기관과 기업 고객은 장비 선택부터 설치·운영 지원까지 맞춤형 서비스를 제공받을 수 있으며,

자사 연구 환경에 최적화된 장비 확보와 연구 효율성 향상을 기대할 수 있다.

㈜지에스이엠 관계자는 "CIQTEK FIB(DB550) 도입으로 국내 연구자들이 신속하고 정밀한 분석을 수행할 수 있게 됐다"며

"앞으로 FIB를 기반으로 최적의 분석 환경과 장비 솔루션을 제공해 국내 연구 생태계 발전에 기여하겠다"고 밝혔다.

| 출처 : 아시아경제 | https://www.asiae.co.kr/article/2025090910244573159

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